Ключевые слова: YBCO, thin films, fabrication, spin coating process, substrate Si, Raman spectroscopy
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, texture, grain structure, filaments, magnetization curves, grain boundaries, microstructure, electron diffraction, experimental results
Ключевые слова: HTS, DI-Bi2223, wires, laminations, reinforcement, compression, design parameters, mechanical properties, tensile tests, stress effects, strain effects, critical caracteristics, critical current, bending radius, fatigue behavior, joints, joint resistances, current-voltage characteristics, high current processing
Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Kikuchi M., Takeda S., Nakashima T., Osabe G., Kagiyama T., Okada T., Kadoya T.
Ключевые слова: review, presentation, HTS, DI-Bi2223, fabrication, overpressure processing, tapes, design parameters, thermal conductivity, high field magnets, reinforcement, laminations, critical caracteristics, critical current, n-value, distribution, uniformity, mechanical properties, tensile tests, bending process, magnetic field dependence, Jc/B curves, stress effects, fatigue behavior, commercialization
Osamura K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Takeda S., Nakashima T., Osabe G., Kagiyama T.
Osamura K., Yamada Y., Yamazaki K., Fujikami J., Hampshire D.P., Machiya S., Tsuchiya Y., Osabe G., Shobu T., Kajiwara K.
Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Nakashima T., YAMADE S., Osabe G., Kagiyama T.
Vysotsky V.S., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Radchenko I.P., Fetisov S.S., Kinoshita K., Osabe G., Sotnikov D.V.
Hayashi K., Sato K., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Nakashima T., YAMADE S., Osabe G., Kagiyama T.
Ayai N., Hayashi K., Higashikawa K., Kiss T., Inoue M., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Nakashima T., YAMADE S., Tatamidani K., Osabe G., Kagiyama T., Shizuya E.
Ayai N., Hayashi K., Sato K., Kitaguchi H., Kumakura H., Kobayashi S., Yamazaki K., Fujikami J., Kikuchi M., Shimoyama J., Nakashima T., YAMADE S., Tatamidani K., Osabe G., Kagiyama T., Shizuya E.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, fabrication, review, DI-Bi2223, tapes, critical current distribution, critical caracteristics, critical current
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.